1陶瓷原料成分的檢測方法


（1）滴定法濕法化學(xué)分析測定陶瓷原料的化學(xué)成分，滴定法是其中常用的方法之一。滴定分析法的原理是，滴定試劑與被測組分在適當(dāng)?shù)乃釅ApH值下反應(yīng)，通過指示劑在反應(yīng)達(dá)到終點時顏色突變所使用的滴定試劑的多少來計算被測物的含量。陶瓷成分測定中，三氧化二鋁、氧化鎂＞5%、氧化鈣、三氧化二鐵、氟化鈣、較高含量的二氧化鈦，還有熔塊釉料中常見的二氧化鋯、氧化鋅、三氧化二硼等。由滴定法測定某組陶瓷原料化學(xué)成分的結(jié)果如表1所示。
 

表1 滴定法測定陶瓷原料的化學(xué)成分由表1可知，滴定法測定低含量成分時，相對偏差較大。如果低含量結(jié)果的精度要求高時不適用。

（2）原子吸收光譜法原子吸收光譜法的分析原理是，將光源輻射出的待測元素的特征光譜通過樣品的蒸汽時，被蒸汽中的待測元素的基態(tài)原子所吸收，由發(fā)射光譜被減弱的程度，進(jìn)而求得樣品中待測元素的含量。由于原子吸收檢測的靈敏度很強，因此在測定較低含量的元素時比較顯優(yōu)勢。就目前運用的檢測手段而言，原子吸收是準(zhǔn)確的方法之一，其元素檢出限可低至0.0001%。由原子吸收光譜法測定元素的含量見表2。

表2 原子吸收光譜法測定陶瓷原料的化學(xué)成分由表2可知，原子吸收光譜法測定高含量成分時，偏差較大。如果高含量結(jié)果的準(zhǔn)確度要求很高時不適用。
（3）X射線熒光法X射線熒光法的分析原理是用X射線照射試樣時，試樣會被激發(fā)出熒光X射線，不同元素被激發(fā)出的熒光X射線的波長（或能量）不同，且射線強度與元素含量成正比。把混合的熒光X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的數(shù)值和射線的強度，可以進(jìn)行定性和定量分析。X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。作為干法化學(xué)分析方法的典型代表，越來越多的陶瓷材料檢測采用X射線熒光分析法進(jìn)行測定材料的化學(xué)成分，主要在于這種方法的快速、準(zhǔn)確及操作簡捷。波長色散法的檢測結(jié)果非常穩(wěn)定，無論成分含量的高或低，準(zhǔn)確性均符合國家標(biāo)準(zhǔn)要求，檢出限低至0.001%。能量色散法能在同一時間分析出所有元素，具有準(zhǔn)確、快速的優(yōu)點，定量分析稍遜于波長色散法。但在特定范圍內(nèi)的材料也能獲得滿意的結(jié)果，特定元素檢出限可達(dá)0.01%。由波長色散X射線熒光法測定某陶瓷原料化學(xué)成分的結(jié)果見表3。

表3 波長色散X射線熒光法測定陶瓷原料化學(xué)成分（%）由表3可知，波長色散X射線熒光測定成分時，重復(fù)性較好。無論是主量元素，還是微量元素，其結(jié)果都比較滿意。能量色散X射線熒光測定成分時，重復(fù)性也較好。但是所檢測的樣品范圍比較窄，如石英、鉀長石、鈉長石、高嶺土樣品能迅速測定，結(jié)果較滿意?；旌蠘悠返臋z測偏差比較大。

（4）原子熒光光譜法原子熒光光譜法是介于原子發(fā)射光譜（AES）和原子吸收光譜（AAS）之間的光譜分析技術(shù)。該法的優(yōu)點是靈敏度高，目前已有20多種元素的檢出限優(yōu)于原子吸收光譜法和原子發(fā)射光譜法。其主要用于金屬元素的測定，在環(huán)境科學(xué)、高純物質(zhì)、礦物、水質(zhì)監(jiān)控、生物制品和醫(yī)學(xué)分析等方面也有廣泛的應(yīng)用，如測定汞、砷、鉻、鉛等有毒成分。

（5）其他檢測法分光光度計、火焰光度計、離子計分別在測定某些元素和離子含量時，有較強的優(yōu)勢。比如分光光度計（比色法）測定低含量的二氧化鈦、三氧化二鐵、二氧化硅等，檢測結(jié)果非常準(zhǔn)確?；鹧婀舛扔嫓y氧化鉀、氧化鈉操作比較方便，結(jié)果也能符合生產(chǎn)要求。離子計測氟離子是準(zhǔn)確的方法。以上所提及的方法都是陶瓷原料化學(xué)成分分析常用的方法，不同方法對不同含量的元素成分各有優(yōu)勢。

2檢測偏差分析

（1）滴定分析法滴定分析法的檢測偏差主要來自標(biāo)準(zhǔn)溶液的濃度是否準(zhǔn)確、檢測過程溶液的酸堿值是否符合反應(yīng)的要求、滴定管是否標(biāo)準(zhǔn)、滴定速度是否合適、滴定溫度能否保持等等。由于檢測步驟較多，需要注意的環(huán)節(jié)也多，容易引起偏差。含量較低的成分更加必須小心。

（2）原子吸收光譜分析法原子吸收光譜分析法的檢測偏差主要來自標(biāo)準(zhǔn)溶液的濃度是否準(zhǔn)確、稀釋溶液倍數(shù)越高，檢測偏離風(fēng)險越大。

（3）X射線熒光光譜法

X射線熒光光譜法的檢測偏差來自樣品本身。在壓片制樣的測定過程中存在顆粒效應(yīng)、基質(zhì)效應(yīng)、礦物效應(yīng)等影響。即粉末樣品的顆粒細(xì)度不一致、所含元素不一致、所含礦物不一致，對檢測結(jié)果會帶來偏差。通過熔融法將待測樣品熔融成玻璃片進(jìn)行測定，可以消除這些效應(yīng)，但是熔制樣片時降低了試樣的被檢濃度，而加入的熔劑也會引入新的成分，檢測時要避開這些因素。

（4）干、濕法檢測

無論濕法還是干法的檢測，都要使用化學(xué)試劑，在檢測過程中，化學(xué)試劑和被檢樣品交融在一起。因此化學(xué)試劑的純凈度不夠會引起偏差，檢測時必須進(jìn)行空白對照實驗，即不加入樣品，與檢測同步使用所有化學(xué)試劑和設(shè)備，測定相關(guān)含量。同時使用有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行同樣的檢測，以便監(jiān)控檢測的有效性。

（5）標(biāo)準(zhǔn)曲線定位

儀器檢測都涉及標(biāo)準(zhǔn)曲線，標(biāo)準(zhǔn)曲線的取點很重要，檢測點盡量設(shè)置在標(biāo)準(zhǔn)曲線的中間段，檢測點離標(biāo)準(zhǔn)曲線中位越遠(yuǎn)，越容易引起偏差。

（6）波長色散X熒光法

儀器檢測時，含量接近或超出檢出限的檢測結(jié)果偏差較大；設(shè)備的檢測邊緣元素的測定偏差也比較大，如波長色散X熒光儀的檢測為硼（B）至鈾（U）的范圍，測硼時的偏差會比較大、能量色散X熒光儀測鈉時也是如此。

4結(jié)論

（1）用波長色散X射線熒光法測定普通原料是 亻圭 的方法，檢測數(shù)據(jù)完滿足普通陶瓷生產(chǎn)的需要，并且檢測速度快。因為干法檢測對環(huán)境的污染也很小。但是設(shè)備成本較高。

（2）普通的陶瓷原料也可以采用濕法進(jìn)行測定，原料中含量較高的成分用滴定法、重量法測定。原料中的微量和痕量元素可以由原子吸收和分光光度計等設(shè)備完成。雖耗時長，但是準(zhǔn)確性高、成本較低。

（3）化工料或混合料成分相對復(fù)雜，某些成分在檢測過程中還會互相影響，準(zhǔn)確測定結(jié)果有時需要多種設(shè)備與多種方法相配合，如一般的熔塊的測定：三氧化二鋁、二氧化硅、二氧化鋯、三氧化二硼用滴定法；三氧化二鐵、氧化鈣、氧化鎂、氧化鉀、氧化鈉、氧化鋅、氧化鋰、氧化鉛等用原子吸收法；氧化鋇、硫、灼減量等用重量法；二氧化鈦、五氧化二磷用比色法；含氟離子的樣品還需要用離子計測定氟離子的含量。對于加入了較多量鈷、鐠、鉻、鐵、鈦、釩等顯色成分調(diào)配的色料原料，檢測過程更需使用多種方法和設(shè)備?；ち匣蚧旌狭希部梢杂貌ㄩL色散X射線熒光法進(jìn)行測定，需要建立相近含量成分的標(biāo)準(zhǔn)曲線，檢測結(jié)果較好。但是當(dāng)樣品中含硼或氟成分，由于熔劑本身含硼，又由于高溫制樣會使部分氟揮發(fā)，所以結(jié)果不理想。

（4）一般陶瓷企業(yè)對生產(chǎn)原料化學(xué)成分的穩(wěn)定性的監(jiān)控，采用滴定法、火焰光度計法、分光光度計法和重量法，基本能滿足生產(chǎn)的需要。如果需要更的監(jiān)控，從性價比考慮，可以把樣品送到設(shè)備比較齊全的綜合性實驗室進(jìn)行檢測。